QNix 4500涂層測厚儀原理

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QNix 4500涂層測厚儀原理

磁性測量原理

一、磁感應原理測厚儀磁感應原理是利用測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來測定覆層厚度的，覆層愈厚，磁通愈小。由于是電子儀器，校準容易，可以實多種功能，擴大量程，提高精度，由于測試條件可降低許多，故比磁吸力式應用領域更廣。當軟鐵芯上繞著線圈的測頭放在被測物上后，儀器自動輸出測試電流，磁通的大小影響到感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。早期的產(chǎn)品用表頭指示，精度和重復性都不好，后來發(fā)展了數(shù)字顯示式，電路設計也日趨完善。

二、采用電渦流原理的測厚儀，原則上所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其他鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。有些特種用途如某種金屬上的金剛石鍍層及其它噴鍍不導電層。覆層材料也可以有一定的導電性，通過校準同樣也可以測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3～5倍以上(如銅上鍍鉻)。校準的原則是沒有覆層的校準試樣與被測物的基材應有：成分相同，厚度相同(主要在于厚度小于儀器規(guī)定的小值約0.5mm以下時)，有相同的曲率半徑，如被測面積小于儀器技術參數(shù)的要求(直徑約20mm以下)，還應有相同的被測面積。如覆層含有導電成份，校準試樣的覆層也應與被測物的覆層有相同的導電性能。校準試樣的覆層經(jīng)過其它(包括有損測試方法)測試后標定厚度或用已標定的校準薄片做覆層，就可以在其上面按說明書的方法校準測厚儀。校準后就可以在被測產(chǎn)品上進行快速無損檢測。校準薄片一般用三醋酸酯薄膜或經(jīng)苯酚樹脂浸漬過的硬紙。微電腦測厚一般有多個校準值存貯。隨著被測產(chǎn)品的不同位置、材料變化、更換測頭等均可分別校準并存貯。實際使用時直接調用各校準值，就無須重新調校了。這即是所謂“速換基準”。大大提高了檢測效率。測試數(shù)據(jù)在智能化儀器里一般可以存貯、打印、計算統(tǒng)計數(shù)據(jù)供分析，還有可以打印直方圖的功能使覆層厚度分布一目了然。如設置了上下極限還可以使統(tǒng)計數(shù)據(jù)更加準確，測量時所有超限的點都有聲響提醒注意并不取入做統(tǒng)計計算用。

QNix 4500測厚儀特點：

1.只需調零、無需校準
2.Fe/NFe兩用探頭
3.QuaNix 4200/4500 涂鍍層測厚儀一體化設計
4.QuaNix 4200/4500 涂鍍層測厚儀自動開關機

QuaNix 4200/4500 涂鍍層測厚儀技術參數(shù)
型號	4200	4500	1200	1500	7500	keyless
基體	Fe	Fe/NFe	Fe	Fe/NFe	Fe、NFe、Fe/NFe	Fe/NFe
探頭形式	一體				一體、分體	無線分體
顯示	LCD數(shù)字顯示
測量范圍	0－3000μm	Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm	0－2000μm	0－5000μm	0－2000μm 0－5000μm	0－5000μm
測量精度	0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3%
顯示精度	0.1μm		0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm
工作溫度	－10 －＋60℃
溫度補償	0－50℃
存儲	－			1500M型	7500M型	keylessM型
				3900個測量值，999個數(shù)據(jù)組
數(shù)據(jù)傳輸	－			RS232打印、電腦
統(tǒng)計功能	－			平均值、大值、小值、標準偏差
超限報警	－					上下限
小基體	10mm×10mm
小曲率	凸、凹半徑：3mm/25mm		凸半徑：5mm，凹半徑：25mm
小厚度	Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
電源	5號電池2節(jié)		9V堿性電池1節(jié)			5號電池2節(jié)
重量	110g		130g		150g	130g
尺寸	110×60×27mm		166×64×34mm		110×60×24mm	110×62×22mm